株式会社日本サーマル・コンサルティングは熱分析、熱物性、ナノスケール赤外分光/熱分析、メカニカル特性分析を専門に高度でより多彩な分析に対応出来るように最先端技術の製品を扱い装置販売と受託分析サービスでお客様のニーズにお応えしています。


共同研究者および社員募集

新製品・赤外分光分析システム発売開始しました 2017年10月16日

(株)日本サーマル・コンサルティング 取扱商品

mIRage IR マイクロスコープ(米国フォトサーマルスペクトロスコピー社)

nanoIR2-FS

(ミラージュ)スペクトロスコピー
(サブミクロン赤外分光分析システム)
 NEW

FT-IRやATRで実現出来ない分解能領域、サブミクロン(500nm以下)の空間分解能で赤外分光分析を可能にする新測定方法のシステムです。AFMを使用していないため取扱いは非常に容易で、高分解能での赤外スペクトル及び赤外吸収イメージを高速で得ることが出来ます。

蛍光を発する試料に対しても測定が可能です。
又、ラマンシステムとの組み合わせで測定スポットを同時に赤外スペクトルとラマンスペクトルの両スペクトルを取得することができます。
mIRage + Ramanシステム

AFM-IR 赤外分光分析システム(Bruker / アナシスインスツルメント社)

nanoIR2

AFM-IR nanoIR2スペクトロスコピー
(ナノスケール赤外分光分析システム)

10nm以下の空間分解能を有する局所赤外スペクトル、赤外吸収マップ、表面硬さマップ、表面形状測定システム。
薄片試料、基板上試料、薄膜試料測定用。
オプション:局所熱分析、転移温度マッピング

nanoIR2-FS

AFM-IR nanoIR2-FS    
(ナノスケール赤外分光分析システム)

10nm以下の空間分解能を有する局所赤外スペクトル、赤外吸収マップ、 表面硬さマップ、表面形状測定システムで高速スキャン機能搭載。
薄片試料、基板上試料、薄膜試料測定用。
オプション:局所熱分析、転移温度マッピング

nanoIR2S

AFM-IR nanoIR2Sスペクトロスコピー
(ナノスケール赤外分光分析システム)

上記nanoIR2と同様の仕様にスキャッタリングSNOM(s-SNOM)がプラスされたシステム。10nm以下の空間分解能を有するオプティカル特性イメージングが可能になり、グラフェン、2Dマテリアル、ナノアンテナ等の無機物解析に有効。
AFM-IRとの融合で有機物から無機物分析まで広範囲な応用に適応します。

nano-TA 局所熱分析システム(Bruker / アナシスインスツルメント社)

afm plus

afm plus ナノサーマルアナリシスシステム
(ナノスケール熱分析システム)

100nm以下の空間分解能を有する局所熱分析システム。局所における熱分析と転移温度マッピング及び、表面粘弾性特性(ロレンツ技術)マッピング、AFM像(コンタクト/タッピングモード)、熱伝導性像測定。

AFM-TD-MSシステム

局所発生ガス質量分析システム

米国ナノビア社

ナノインデンテーションシステム

ナノ/マイクロインデンテーション・スクラッチ(メカニカルアナライザー)システム

ナノスケールからマイクロスケールにおける広範囲なメカニカル評価が容易に可能。
●インデンテーションモード
●スクラッチモード
●摩擦/摩耗モード

トライボロジー試験システム

トライボロジー(トライボメーター)試験システム

回転、直線の摩擦/摩耗評価システム
★豊富なアクセサリー
●回転/直線駆動ステージ ●高温チャンバー
●ピンオンディスクテスト   ●低温チャンバー
●ブロックオンリングテスト ●液中テストチャンバー
●リングオンリングテスト  ●湿度コントロールユニット
●4ボールテスト        ●腐食性ガスアクセサリー
●スクラッチテスト

プロファイルメーターシステム

3次元寸法形状測定システム

ノンコンタクト方式、形状、寸法、平滑度、表面粗さ、傾斜角度、ラウンド等の精密プロファイル計測が容易に可能。
※多種多様なアプリケーションに対応可能の多種システムが揃っています。

独国 リンザイス社

高感度熱分析システム

高感度熱分析システム

研究開発から品質管理に至るまで広範囲に対応出来る熱分析システム
●示差走査熱量計(DSC)オートサンプラー付
  -180℃~750℃
●熱重量分析装置(TGA)オートサンプラー付
  室温~1100℃
●熱重量-示差熱分析装置(TG-DTA/DSC)
  室温~1000℃又は1600℃、最高2400℃
●高圧熱重量-示差熱分析装置(High Pressure TG-DTA/DSC)
  室温~1800℃、最高圧力150bar
●熱機械測定装置(TMA)
  -260℃~1600℃(システムにより異なる)

熱膨張測定装置(ディラトメーター)

熱膨張測定装置(ディラトメーター)

多種応用に適応出来る高精度熱膨張率測定装置
●水平方式ディラトメーター
  -180℃~最高2000℃
●垂直方式ディラトメーター
  -180℃~最高2800℃
●レーザーディラトメーター
  -180℃~最高1000℃
●オプティカルディラトメーター
  -100℃~最高1700℃
●クライオディラトメーター(極低温熱膨張測定装置)
  -260℃~220℃

熱伝導率測定システム

熱伝導率測定システム

温度範囲:-125℃~1600℃
●レーザー/キセノンフラッシュシステム
 高精度な熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●THB(簡易熱電率測定)システム
 固体/液体試料の熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●HFM(ヒートフローメーター熱伝導率測定システム)
 断熱材や建材の熱伝導率測定
ナノレーザーフラッシュシステム
ライトフラッシュシステム(新製品)
低価格、高精度、熱拡散 / 熱伝導 / 比熱測定

LSR-3型シーベック係数測定システム

LSR-3型シーベック係数測定システム

操作性が良く精度の高い測定が可能なシーベック係数測定システムです。測定温度範囲は広く再現性も高い測定を保証します。

 詳細は取扱製品のページへ

(株)日本サーマル・コンサルティング 受託分析及び技術サービス

 

メンテナンスサービスや定期点検等、お客様から信頼と満足を頂けるように常に技術向上を目指しています。

 弊社ではnanoIR赤外分光分析及び熱分析受託を行っています

QCLレーザーnanoIRデモ開始

新製品・HiResTGA販売

高精度TMA/ディラトメーター販売

過去のセミナー

2019年5月
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析の現状と新展開セミナー

2018年10月
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析システム mIRage(ミラージュ)とnanoIRワークショップ

2018年9月
サブミクロン赤外分光分析システム mIRage(ミラージュ)展示

2018年6月
nanoIR スペクトロスコピー ワークショップ開催のお知らせ 局所赤外分光分析技術最新展開と応用

2017年11月
最新AFM-IR測定応用と新製品nanoFT-IR システム発表

2017年9月
JASIS2017 展示会及びセミナー

2017年5月
nanoIRスペクトロスコピー
セミナー/ワークショップ開催

2016年11月
最新AFM-IRスペクトロスコピー(nanoIR)
開発現状に関するセミナー

2016年9月
JASIS新技術説明会
nanoIR2S(s-SNOM/AFM-IR)技術開発の現状と展開・発表会

2016年2月
トライボロジー最新測定技術セミナー

2015年12月
AFM-IRスペクトロスコピー nanoIR極微小領域赤外分光分析システムセミナー

2015年10月
ナノスケール薄膜熱伝導率/比熱測定

2015年9月
JASIS2015における弊社新技術説明会

2015年6月
nano-IRスペクトロスコピー(AFM-IR) セミナー&ワークショップ

2014年11月
『nanoIR局所赤外スペクトロスコピー(AFM-IR)の 最新技術展開の進歩と可能性』 に関するセミナー

2014年9月
JASIS2014展・新技術説明会

2014年4月
nanoIRスペクトロスコピーAFM-IRセミナー

2013年11月
nanoIR新測定法セミナー

2013年4月
最新メカニカルアナリシス法セミナー 

2012年4月
赤外分光分析法AFM-IRセミナー

2011年12月
ナノスケール分解能赤外分光分析法と応用

2010年4月
ナノスケールIR/TA測定法セミナー


DM NEWS

2019年5月
NEW 熱可塑性樹脂の品質検査装置のご紹介

NEW アナシスインスツルメント社 nanoIRスペクトロスコピー新価格設定のお知らせ

2019年4月
【6月開催】 熱伝導率測定に関するセミナー開催のお知らせ

リンザイス社 熱拡散・熱伝導率測定システム各種装置のご案内

ナノビア社 3次元寸法/形状プロファイラーシステム ノンコンタクト コンフォーカル測定方式

ナノビア社メカニカルテストシステムのご案内

2019年3月
サブミクロン空間分解能 赤外分光分析の現状と新展開セミナーのお知らせ

サブミクロン空間分解能 赤外分光分析システム mIRageスペクトロスコピー 新機能のお知らせ

2019年2月
米国ナノビア社 トライボロジー評価システム トライボメーター製品のご案内

リンザイス社 高温顕微熱分析システムのご案内

リンザイス社 高性能顕微ディラトメーターのご案内

リンザイス社 高性能フラッシュライト(キセノン)熱拡散・熱伝導率測定装置のご案内

測定・解析 コンサルティング業務案内

高性能・小型DSCシステムのご紹介

2019年1月
nanoIR2 赤外スペクトロスコピー 特別価格販売キャンペーン第二弾のお知らせ

nanoIR2 赤外スペクトロスコピー 特別価格販売キャンペーンのお知らせ

2018年11月
顕微FT-IRを超える新世代 高空間分解能赤外分光分析システム フォトサーマルインデュースドレゾナンス検出方式 mIRage(ミラージュ)システム特別価格販売のご紹介

新製品 DSC(示差走査熱量計)販売のお知らせ

2018年9月
mIRageスペクトロスコピー新機能開発!!IR+Raman スペクトロスコピー(IR+ラマン 同時測定スペクトロスコピー)

顕微FT-IRを超える新世代 高空間分解能赤外分光分析システム フォトサーマルインデュースドレゾナンス検出方式 mIRage(ミラージュ)システムのご紹介

サブミクロン空間分解能 赤外分光分析システム mIRage(ミラージュ)とnanoIRワークショップ開催のお知らせ

2018年8月
サブミクロン赤外分光分析システム mIRage(ミラージュ)展示のお知らせ

2018年7月
リンザイス社 熱拡散率・熱伝導率・比熱測定システム新製品販売のお知らせ

2018年5月
サブミクロン赤外分光分析システムMirage(ミラージュ)新会社設立のお知らせ

2018年4月
リンザイス社 熱拡散・熱伝導率測定装置のご案内

リンザイス社 高温顕微熱分析システムのご案内

nanoIR スペクトロスコピー ワークショップ開催のお知らせ

デモ使用装置 nanoIR スペクトロスコピー 格安販売のお知らせ(AFM-IR 赤外分光分析/熱分析装置)

ナノビア社 ナノ・マイクロ インデンテーション/スクラッチ/摩耗テストシステムのご案内

リンザイス社創業60周年!!高感度汎用型熱分析システム特別価格販売のお知らせ

2018年3月
デモ仕様装置 nanoIR スペクトロスコピー 格安販売のお知らせ

2018年2月
mIRage IR microscope – サブミクロン赤外分光分析装置

nanoIR1及びnanoIR2デモ使用装置格安販売

2018年1月
ナノスケール赤外分光分析システム ミラージュ(mIRage)の期間限定デモのお知らせ

2017年12月
新製品 キセノンフラッシュ熱拡散・熱伝導率・比熱測定システム 新製品販売のお知らせ

新技術 ナノスケール分解能(0.5μm) 赤外分光分析システム販売のお知らせ

2017年10月
新製品・新測定方式赤外分光分析システムのご紹介

2017年5月
新発売 AFM-IRファーストスペクトラ&マッピング測定モード

2017年4月
高感度熱分析システムのご紹介

ナノビア社 トライボメーターのご案内(摩耗/摩擦専用試験機)

新発売 高分解能タッピングAFM-IR測定モード nanoIR スペクトロスコピーシステム

2017年3月
ナノビア社 ナノ・マイクロ・マクロ インデンテーション/スクラッチ/摩耗テストシステム 2機種のご案内

AFM-IR(nanoIRスペクトロメトリー)新機能開発のお知らせ

nanoIR(ナノスケール赤外分光分析)共同研究協力者募集

nanoIRスペクトロスコピーを利用して貴研究にお役に立てられる共同研究協力者を募集しています。

  • 貴研究所にして頂くこと
    1)試料作成と提供
    2)学会等での研究成果発表
    3)論文作成等
  • 弊社が行うこと
    1)測定・IRスペクトル(nanoIR)
     ・ IR吸収イメージ(nanoIR)
     ・ 硬さイメージ(nanoIR)
     ・ 熱分析(nanoTA)
     ・ 熱伝導性測定(SThM)

※ご興味がありましたらご連絡頂ければ打合せさせて頂きます。
お問合せページよりご連絡下さい。


社員募集

正社員を募集しています。
ご興味がありましたらお問合せページより連絡下さい。
給与は相談に応じます。

  募集内容

  • 営業(科学機器セールス経験者)
  • サービス(科学機器技術サービス経験者優遇)
  • アプリーケーション(測定技術経験者優遇)
  • マーケティング(マーケティング、セールスプロモーション)

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