米国アナシスインスツルメント社

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AFM-IR/ s-SNOM nanoIR2Sスペクトルスコピー

nanoIR2SシステムはAFMとパルスチューナブルレーザー及びマイケルソン干渉スキャッタリングSNOM技術の融合により10nmの空間分解能でIRスペクトル、IR吸収イメージ測定が可能になるナノスケール赤外分光分析システムです。

ナノスケールにおけるマルチ測定項目

• IRスペクトル（化学的情報）
• IR吸収マップ（化学的性質マップ）
• AFM像（コンタクトモード／タッピングモード）
• 表面硬さマップ（硬さ特性）

• 熱分析（局所熱特性）
• 転移温度マップ（熱特性分布像）
• 粘弾性マップ（粘弾性特性分布）

nanoIR2S装置

応用得意分野

無機物一般（グラフェン、ボロンナイトライト、2Dマテリアル他）

s-SNOM方式	検出シグナル
AFM-IRとs-SNOM測定概要	nanoIR2-s（AFM-IR＆s-SNOM機能）装置概要
空間分解能	ポイントスペクトル

応用例

グラフェン解析	ナノアンテナ解析
ボロンナイトライド解析	PMMA-PS　IR吸収イメージ

 

AFM-IR及びタッピングAFM-IR機能はnanoIR2及びnanoIR2-FSと同じ仕様になります。（データ等はnanoIR2またはnanoIR2-FS欄をご参照下さい）

 

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• 多機能局所熱分析AFM+ご案内
• 局所熱分析法による転移温度マッピングの方法と応用
• ナノTA新トピックス07.8
• ナノTA新製品07.7
• ナノTAテクニカルニュース
• ナノTAテクニカルニュースVOL2
• ナノTAテクニカルニュースVOL3

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