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株式会社日本サーマル・コンサルティングは熱分析、熱物性、ナノスケール赤外分光/熱分析、メカニカル特性分析を専門に高度でより多彩な分析に対応出来るように最先端技術の製品を扱い装置販売と受託分析サービスでお客様のニーズにお応えしています。


共同研究者および社員募集

(株)日本サーマル・コンサルティング 取扱商品

ナノスケール局所分析シリーズ(米国アナシスインスツルメント社)

nanoIR

AFM-IR nanoIR1スペクトロスコピー
(ナノスケール赤外分光分析システム)

50nm以下の空間分解能を有する局所赤外スペクトル、赤外吸収マップ、表面硬さマップ、表面形状測定システム。
薄片試料測定用。
オプション:局所熱分析、転移温度マッピング

nanoIR

AFM-IR nanoIR2スペクトロスコピー
(ナノスケール赤外分光分析システム)

50nm以下の空間分解能を有する局所赤外スペクトル、赤外吸収マップ、表面硬さマップ、表面形状測定システム。
薄片試料、基板上試料、薄膜試料測定用。
オプション:局所熱分析、転移温度マッピング

nanoIR

AFM-IR nanoIR2Sスペクトロスコピー
(ナノスケール赤外分光分析システム)

上記nanoIR2と同様の仕様にスキャッタリングSNOM(s-SNOM)がプラスされたシステム。10nm以下の空間分解能を有するオプティカル特性イメージングが可能になり、グラフェン、2Dマテリアル、ナノアンテナ等の無機物解析に有効。
AFM-IRとの融合で有機物から無機物分析まで広範囲な応用に適応します。

afm plus

afm plus ナノサーマルアナリシスシステム
(ナノスケール熱分析システム)

100nm以下の空間分解能を有する局所熱分析システム。局所における熱分析と転移温度マッピング及び、表面粘弾性特性(ロレンツ技術)マッピング、AFM像(コンタクト/タッピングモード)、熱伝導性像測定。

AFM-TD-MSシステム

局所発生ガス質量分析システム

Nano-TA2

Nano-TA2 ナノサーマルアナリシス
(ナノスケール熱分析システム)

貴ご使用のAFM装置に接続し局所熱分析が可能。局所における熱分析と熱伝導性像測定。

SThM サーマル顕微鏡システム

貴ご使用AFM装置に接続し局所熱伝導性像測定

米国ナノビア社

ナノインデンテーションシステム

ナノインデンテーション(メカニカルアナライザー)システム

ナノスケール、ミクロスケール、マクロスケール(マルチスケール)におけるメカニカル評価が容易に可能。
●インデンテーション(インデンター)モード
●スクラッチモード
●摩擦モード

トライボロジー試験システム

トライボロジー(トライボメーター)試験システム

回転、直線の摩擦評価システム

プロファイルメーターシステム

3次元寸法形状測定システム

ノンコンタクト方式、材料形状、寸法、平滑度、表面粗さ、傾斜角度等の精密プロファイル計測が容易に可能

独国 リンザイス社

高感度熱分析システム

高感度熱分析システム

研究開発から品質管理に至るまで広範囲に対応出来る熱分析システム
●示差走査熱量計(DSC)オートサンプラー付
  -180℃~750℃
●熱重量分析装置(TGA)オートサンプラー付
  室温~1100℃
●熱重量-示差熱分析装置(TG-DTA/DSC)
  室温~1000℃又は1600℃、最高2400℃
●高圧熱重量-示差熱分析装置(High Pressure TG-DTA/DSC)
  室温~1800℃、最高圧力150bar
●熱機械測定装置(TMA)
  -260℃~1600℃(システムにより異なる)

熱膨張測定装置(ディラトメーター)

熱膨張測定装置(ディラトメーター)

多種応用に適応出来る高精度熱膨張率測定装置
●水平方式ディラトメーター
  -180℃~最高2000℃
●垂直方式ディラトメーター
  -180℃~最高2800℃
●レーザーディラトメーター
  -180℃~最高1000℃
●オプティカルディラトメーター
  -100℃~最高1700℃
●クライオディラトメーター(極低温熱膨張測定装置)
  -260℃~220℃

熱伝導率測定システム

熱伝導率測定システム

温度範囲:-125℃~1600℃
●レーザー/キセノンフラッシュシステム
 高精度な熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●THB(簡易熱電率測定)システム
 固体/液体試料の熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●HFM(ヒートフローメーター熱伝導率測定システム)
 断熱材や建材の熱伝導率測定
ナノレーザーフラッシュシステム

LSR-3型シーベック係数測定システム

LSR-3型シーベック係数測定システム

操作性が良く精度の高い測定が可能なシーベック係数測定システムです。測定温度範囲は広く再現性も高い測定を保証します。

 詳細は取扱製品のページへ

(株)日本サーマル・コンサルティング 受託分析及び技術サービス

 

メンテナンスサービスや定期点検等、お客様から信頼と満足を頂けるように常に技術向上を目指しています。

 弊社ではnanoIR赤外分光分析及び熱分析受託を行っています

NEW QCLレーザーnanoIRデモ開始

NEW 新製品・HiResTGA販売

NEW 高精度TMA/ディラトメーター販売

(株)日本サーマル・コンサルティング セミナー情報

 

セミナーの開催が決定次第、こちらでご案内いたします。

過去のセミナー

2016年11月
最新AFM-IRスペクトロスコピー(nanoIR)
開発現状に関するセミナー

2016年9月
JASIS新技術説明会
nanoIR2S(s-SNOM/AFM-IR)技術開発の現状と展開・発表会

2016年2月
トライボロジー最新測定技術セミナー

2015年12月
AFM-IRスペクトロスコピー nanoIR極微小領域赤外分光分析システムセミナー

2015年9月
JASIS2015における弊社新技術説明会

2015年6月
nano-IRスペクトロスコピー(AFM-IR) セミナー&ワークショップ

2014年11月
『nanoIR局所赤外スペクトロスコピー(AFM-IR)の 最新技術展開の進歩と可能性』 に関するセミナー

2014年9月
JASIS2014展・新技術説明会

2014年4月
nanoIRスペクトロスコピーAFM-IRセミナー

2013年11月
nanoIR新測定法セミナー

2013年4月
最新メカニカルアナリシス法セミナー 

2012年4月
赤外分光分析法AFM-IRセミナー

2011年12月
ナノスケール分解能赤外分光分析法と応用

2010年4月
ナノスケールIR/TA測定法セミナー


nanoIR(ナノスケール赤外分光分析)共同研究協力者募集

nanoIRスペクトロスコピーを利用して貴研究にお役に立てられる共同研究協力者を募集しています。

  • 貴研究所にして頂くこと
    1)試料作成と提供
    2)学会等での研究成果発表
    3)論文作成等
  • 弊社が行うこと
    1)測定・IRスペクトル(nanoIR)
     ・ IR吸収イメージ(nanoIR)
     ・ 硬さイメージ(nanoIR)
     ・ 熱分析(nanoTA)
     ・ 熱伝導性測定(SThM)

※ご興味がありましたらご連絡頂ければ打合せさせて頂きます。
お問合せページよりご連絡下さい。


社員募集

正社員を募集しています。
ご興味がありましたらお問合せページより連絡下さい。
給与は相談に応じます。

  募集内容

  • 営業(科学機器セールス経験者)
  • サービス(科学機器技術サービス経験者優遇)
  • アプリーケーション(測定技術経験者優遇)
  • マーケティング(マーケティング、セールスプロモーション)