株式会社日本サーマル・コンサルティング

株式会社日本サーマル・コンサルティングは熱分析、熱物性、ナノスケール赤外分光/熱分析、メカニカル特性分析を専門に高度でより多彩な分析に対応出来るように最先端技術の製品を扱い装置販売と受託分析サービスでお客様のニーズにお応えしています。

共同研究者および社員募集

新製品・赤外分光分析システム発売開始しました　2017年10月16日

mIRage IR マイクロスコープ（米国フォトサーマルスペクトロスコピー社）

（ミラージュ）スペクトロスコピー
（サブミクロン赤外分光分析システム）　

FT-IRやATRで実現出来ない分解能領域、サブミクロン（500nm以下）の空間分解能で赤外分光分析を可能にする新測定方法のシステムです。AFMを使用していないため取扱いは非常に容易で、高分解能での赤外スペクトル及び赤外吸収イメージを高速で得ることが出来ます。

蛍光を発する試料に対しても測定が可能です。
又、ラマンシステムとの組み合わせで測定スポットを同時に赤外スペクトルとラマンスペクトルの両スペクトルを取得することができます。
mIRage + Ramanシステム

AFM-IR 赤外分光分析システム（Bruker / アナシスインスツルメント社）

AFM-IR　nanoIR2スペクトロスコピー
（ナノスケール赤外分光分析システム）

10nm以下の空間分解能を有する局所赤外スペクトル、赤外吸収マップ、表面硬さマップ、表面形状測定システム。
薄片試料、基板上試料、薄膜試料測定用。
オプション：局所熱分析、転移温度マッピング

AFM-IR　nanoIR2-FS 　　　
（ナノスケール赤外分光分析システム）

10nm以下の空間分解能を有する局所赤外スペクトル、赤外吸収マップ、表面硬さマップ、表面形状測定システムで高速スキャン機能搭載。
薄片試料、基板上試料、薄膜試料測定用。
オプション：局所熱分析、転移温度マッピング

AFM-IR　nanoIR2Sスペクトロスコピー
（ナノスケール赤外分光分析システム）

上記nanoIR2と同様の仕様にスキャッタリングSNOM（s-SNOM）がプラスされたシステム。10nm以下の空間分解能を有するオプティカル特性イメージングが可能になり、グラフェン、2Dマテリアル、ナノアンテナ等の無機物解析に有効。
AFM-IRとの融合で有機物から無機物分析まで広範囲な応用に適応します。

nano-TA 局所熱分析システム（Bruker / アナシスインスツルメント社）

afm plus ナノサーマルアナリシスシステム
（ナノスケール熱分析システム）

100nm以下の空間分解能を有する局所熱分析システム。局所における熱分析と転移温度マッピング及び、表面粘弾性特性（ロレンツ技術）マッピング、AFM像（コンタクト／タッピングモード）、熱伝導性像測定。

米国ナノビア社

ナノ/マイクロインデンテーション・スクラッチ（メカニカルアナライザー）システム

ナノスケールからマイクロスケールにおける広範囲なメカニカル評価が容易に可能。
●インデンテーションモード
●スクラッチモード
●摩擦/摩耗モード

トライボロジー（トライボメーター）試験システム

回転、直線の摩擦/摩耗評価システム
★豊富なアクセサリー
●回転/直線駆動ステージ　●高温チャンバー
●ピンオンディスクテスト　　 ●低温チャンバー
●ブロックオンリングテスト　●液中テストチャンバー
●リングオンリングテスト　　●湿度コントロールユニット
●4ボールテスト　　　　　　　●腐食性ガスアクセサリー
●スクラッチテスト

3次元寸法形状測定システム

ノンコンタクト方式、形状、寸法、平滑度、表面粗さ、傾斜角度、ラウンド等の精密プロファイル計測が容易に可能。
※多種多様なアプリケーションに対応可能の多種システムが揃っています。

研究開発から品質管理に至るまで広範囲に対応出来る熱分析システム
●示差走査熱量計(DSC)オートサンプラー付
　　-180℃～750℃
●熱重量分析装置(TGA)オートサンプラー付
　　室温～1100℃
●熱重量-示差熱分析装置(TG-DTA/DSC)
　　室温～1000℃又は1600℃、最高2400℃
●高圧熱重量-示差熱分析装置(High Pressure TG-DTA/DSC)
　　室温～1800℃、最高圧力150bar
●熱機械測定装置（TMA）
　　-260℃～1600℃（システムにより異なる）

熱膨張測定装置（ディラトメーター）

多種応用に適応出来る高精度熱膨張率測定装置
●水平方式ディラトメーター
　　-180℃～最高2000℃
●垂直方式ディラトメーター
　　-180℃～最高2800℃
●レーザーディラトメーター
　　-180℃～最高1000℃
●オプティカルディラトメーター
　　-100℃～最高1700℃
●クライオディラトメーター（極低温熱膨張測定装置）
　　-260℃～220℃

熱伝導率測定システム

温度範囲：-125℃～1600℃
●レーザー/キセノンフラッシュシステム
　高精度な熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●ＴＨＢ(簡易熱電率測定)システム
　固体/液体試料の熱伝導率,熱拡散率,比熱測定
●ＨＦＭ(ヒートフローメーター熱伝導率測定システム)
　断熱材や建材の熱伝導率測定
●ナノレーザーフラッシュシステム
●ライトフラッシュシステム（新製品）
低価格、高精度、熱拡散 / 熱伝導 / 比熱測定

LSR-3型シーベック係数測定システム

操作性が良く精度の高い測定が可能なシーベック係数測定システムです。測定温度範囲は広く再現性も高い測定を保証します。

詳細は取扱製品のページへ

リンザイス社日本サイトが公開されました

メンテナンスサービスや定期点検等、お客様から信頼と満足を頂けるように常に技術向上を目指しています。

弊社ではnanoIR赤外分光分析及び熱分析受託を行っています

QCLレーザーnanoIRデモ開始

新製品・HiResTGA販売

高精度TMA/ﾃﾞｨﾗﾄﾒｰﾀｰ販売

セミナーの開催が決定次第、こちらでご案内いたします。

2019年11月
サブミクロン空間分解能赤外分光／ラマン分光同時分析システムの最新展開と応用Webセミナー

2019年6月
薄膜試料及びバルク試料の熱伝導率測定に関するセミナー

2019年5月
サブミクロン空間分解能赤外分光分析の現状と新展開セミナー

2018年10月
サブミクロン空間分解能赤外分光分析システム mIRage（ミラージュ）とnanoIRワークショップ

2018年9月
サブミクロン赤外分光分析システム mIRage（ミラージュ）展示

2018年6月
nanoIR スペクトロスコピーワークショップ開催のお知らせ局所赤外分光分析技術最新展開と応用

2017年11月
最新AFM-IR測定応用と新製品nanoFT-IR システム発表

2017年9月
JASIS2017 展示会及びセミナー

2017年5月
nanoIRスペクトロスコピー
セミナー/ワークショップ開催

2016年11月
最新AFM-IRスペクトロスコピー(nanoIR)
開発現状に関するセミナー

2016年9月
JASIS新技術説明会
nanoIR2S(s-SNOM/AFM-IR)技術開発の現状と展開・発表会

2016年2月
トライボロジー最新測定技術セミナー

2015年12月
AFM-IRスペクトロスコピー　nanoIR極微小領域赤外分光分析システムセミナー

2015年10月
ナノスケール薄膜熱伝導率/比熱測定

2015年9月
JASIS2015における弊社新技術説明会

2015年6月
nano-IRスペクトロスコピー（AFM-IR）セミナー＆ワークショップ

2014年11月
『nanoIR局所赤外スペクトロスコピー（AFM-IR）の最新技術展開の進歩と可能性』に関するセミナー

2014年9月
JASIS2014展・新技術説明会

2014年4月
nanoIRスペクトロスコピーAFM-IRセミナー

2013年11月
nanoIR新測定法セミナー

2013年4月
最新メカニカルアナリシス法セミナー　

2012年4月
赤外分光分析法AFM-IRセミナー

2011年12月
ナノスケール分解能赤外分光分析法と応用

2010年4月
ナノスケールIR/TA測定法セミナー